Mikroskop Tegak atau Mikroskop Terbalik?
Sebelum menjawab pertanyaan tersebut, perlu dijelaskan terlebih dahulu perbedaan mikroskop tegak dan mikroskop terbalik.
Mikroskop metalografi, juga dikenal sebagai mikroskop material, terutama digunakan untuk mengamati struktur mikro logam. Mereka dapat dibagi menjadi mikroskop metalografi tegak dan mikroskop metalografi terbalik.
Mikroskop metalografi tegak membentuk gambar selama pengamatan, yang memberikan kemudahan bagi pengguna untuk melihat dan membedakan. Kecuali untuk spesimen dengan tinggi lebih dari 20–30 mm, hal ini sesuai dengan kebiasaan pengamatan masyarakat pada umumnya. Oleh karena itu, banyak digunakan untuk mengamati zat transparan, tembus cahaya atau buram, dengan target pengamatan berkisar antara 3 mikron hingga 20 mikron, seperti logam, keramik, chip elektronik, sirkuit cetak, substrat LCD, film tipis, serat, sampel partikel, pelapis dan struktur permukaan material. Jejaknya dapat terpelihara dan disimpan dengan baik. Selain itu, sistem pencitraan pendukung dapat terhubung ke komputer untuk menangkap gambar statis dan dinamis. Hal ini dapat dilengkapi dengan berbagai perangkat lunak untuk memenuhi kebutuhan yang lebih profesional dalam metalografi, pengukuran, pengajaran dan penelitian ilmiah. Mikroskop metalografi terbalik menggunakan metode pencitraan optik untuk mengidentifikasi dan menganalisis struktur berbagai logam dan paduan. Ini adalah alat penting untuk penelitian metalurgi fisik. Ini banyak digunakan di pabrik dan laboratorium untuk inspeksi pengecoran, inspeksi bahan baku, dan analisis struktural bahan logam setelah perlakuan panas, sehingga memberikan hasil analisis yang intuitif. Ini adalah peralatan utama untuk identifikasi kualitas dalam proses pengecoran, peleburan, dan perlakuan panas di industri pertambangan, metalurgi, manufaktur, dan pemrosesan mesin. Dalam beberapa tahun terakhir, industri elektronik membutuhkan spesimen datar dengan pembesaran tinggi untuk mendukung produksi chip. Oleh karena itu, mikroskop metalografi terbalik telah diperkenalkan ke bidang ini dan terus ditingkatkan untuk memenuhi persyaratan inspeksi khusus industri. Berbeda dengan tipe terbalik, permukaan pengamatan spesimen pada mikroskop metalografi tegak menghadap ke bawah dan diletakkan pada panggung spesimen, sedangkan lensa objektif terletak di bawah panggung untuk pengamatan ke atas. Bentuk ini tidak dibatasi oleh tinggi spesimen, menawarkan pengoperasian yang mudah, struktur kompak dan penampilan menarik. Dasar mikroskop metalografi terbalik memiliki area pendukung yang besar dan pusat gravitasi yang rendah untuk pengoperasian yang stabil. Tabung lensa mata dimiringkan pada 45 derajat relatif terhadap permukaan pendukung agar nyaman dilihat.
