Penerapan Mikroskop Metalografi di Berbagai Sektor Industri
Mikroskop metalografi pertama kali diturunkan dari metalografi. Tujuan utamanya adalah untuk mengamati struktur metalografi, menjadikannya instrumen khusus yang dirancang khusus untuk memeriksa struktur metalografi benda buram seperti logam dan mineral. Benda-benda buram ini tidak dapat diamati di bawah mikroskop cahaya transmisi biasa; Oleh karena itu, perbedaan utama antara mikroskop metalografi dan mikroskop biasa terletak pada kenyataan bahwa mikroskop metalografi menggunakan cahaya pantulan untuk penerangan, sedangkan mikroskop biasa mengandalkan cahaya yang ditransmisikan.
Mikroskop metalografi dicirikan oleh stabilitas yang sangat baik, pencitraan yang jelas, resolusi tinggi, dan bidang pandang yang besar dan datar. Selain pengamatan mikroskopis melalui lensa mata, mereka juga dapat menampilkan gambar dinamis-waktu nyata di layar komputer (atau kamera digital). Gambar yang diperlukan dapat diedit, disimpan, dan dicetak, dengan aplikasi utama di berbagai bidang seperti perangkat keras, bagian metalografi, komponen IC, dan manufaktur LCD/LED.
Mikroskop metalografi dilengkapi dengan lima jenis lensa objektif: EPI Brightfield Fluorescence, BD Brightfield/Darkfield, SLWD (Super Long Working Distance), ELWD (Enhanced Long Working Distance), dan lensa dengan kerah koreksi. Dalam industri perangkat keras, untuk bagian perangkat keras dengan pantulan yang parah, lensa objektif BD Brightfield/Darkfield dapat dipilih untuk observasi. Misalnya, dalam industri LCD, ketika mengamati dan mengukur partikel konduktif, mikroskop metalografi dapat dilengkapi dengan DIC (Differential Interference Contrast) untuk menghasilkan pencitraan tiga-dimensi yang lebih banyak. DIC menggunakan teknologi polarisasi-filter polarisasi berpasangan membentuk sistem observasi mikroskopis terpolarisasi. Berdasarkan sifat birefringent objek, ia mengubah jalur optik secara terarah. Namun, polarisasi hanya bermakna bila digunakan bersama dengan DIC; hal ini tidak mempunyai tujuan praktis saja. Ketika mikroskop metalografi digunakan untuk mengukur dan menganalisis objek-berukuran mikro seperti komponen IC dan bagian metalografi, perangkat lunak cerdas Iview-DIMS dapat digunakan.
Perangkat lunak ini menawarkan presisi tinggi, yang secara efektif mengurangi kesalahan pengukuran manusia. Mudah dipelajari dan digunakan, memungkinkan pengukuran dan analisis dimensi relevan yang akurat seperti titik, garis, busur, jari-jari, diameter, dan sudut secara akurat. Ini juga mendukung pengambilan gambar pengukuran dengan mudah dan penyesuaian berbagai laporan pengujian.
