Mengapa mikroskop elektron memiliki resolusi yang jauh lebih tinggi dibandingkan mikroskop optik
Karena mikroskop elektron menggunakan berkas elektron dan mikroskop optik menggunakan cahaya tampak, dan panjang gelombang berkas elektron lebih pendek daripada panjang gelombang cahaya tampak, resolusi mikroskop elektron jauh lebih tinggi daripada mikroskop optik.
Resolusi mikroskop berhubungan dengan sudut datang kerucut dan panjang gelombang berkas elektron yang melewati sampel.
Panjang gelombang cahaya tampak sekitar {{0}} nanometer, sedangkan panjang gelombang berkas elektron berhubungan dengan tegangan percepatan. Menurut prinsip dualitas gelombang-partikel, panjang gelombang elektron berkecepatan tinggi lebih pendek dibandingkan cahaya tampak, dan resolusi mikroskop dibatasi oleh panjang gelombang yang digunakannya, sehingga resolusi mikroskop elektron (0,2 nanometer) jauh lebih tinggi daripada mikroskop optik (200 nanometer).
Penerapan teknologi mikroskop elektron didasarkan pada mikroskop optik yang memiliki resolusi {{0}}.2 μm, dan mikroskop elektron transmisi yang memiliki resolusi 0,2 nm, yaitu elektron transmisi mikroskop diperbesar dengan faktor 1,000 berdasarkan mikroskop optik.
Meskipun resolusi mikroskop elektron jauh lebih tinggi dibandingkan mikroskop optik, mikroskop ini mempunyai beberapa kelemahan:
1, pada mikroskop elektron sampel harus diamati dalam ruang hampa, sehingga tidak mungkin mengamati sampel hidup. Dengan kemajuan teknologi, mikroskop elektron pemindaian lingkungan secara bertahap akan mewujudkan pengamatan sampel hidup secara langsung;
2, dalam pemrosesan sampel dapat menghasilkan struktur yang awalnya tidak ada dalam sampel, yang memperparah kesulitan menganalisis gambar setelahnya;
3, karena kemampuan hamburan elektron yang sangat kuat, rentan terhadap difraksi sekunder dan sebagainya;
4, karena gambar proyeksi bidang dua dimensi dari objek tiga dimensi, terkadang gambar tersebut tidak unik;
5, karena mikroskop elektron transmisi hanya dapat mengamati sampel yang sangat tipis, dan ada kemungkinan struktur permukaan material berbeda dengan struktur internal material;
6, sampel ultra-tipis (di bawah 100 nanometer), proses preparasi sampel rumit dan sulit, dan terdapat kerusakan pada preparasi sampel;
7, berkas elektron dapat merusak sampel karena tumbukan dan pemanasan;
8, harga pembelian dan pemeliharaan mikroskop elektron relatif tinggi.
