Metode pengujian non-destruktif dan prinsip pengukur ketebalan lapisan
Metode pengujian non-destruktif dan prinsip pengukur ketebalan lapisan: Dalam pengukuran sebenarnya, pengukur ketebalan lapisan adalah subjek yang menjanjikan yang sangat komprehensif dalam teori dan sangat mementingkan aspek praktis. Ini melibatkan banyak aspek seperti sifat fisik bahan, desain produk, proses manufaktur, mekanika rekahan, dan perhitungan elemen hingga.
Dalam industri kimia, elektronik, tenaga listrik, logam dan lainnya, untuk melindungi atau menghiasi berbagai bahan, biasanya digunakan penyemprotan penutup logam non-ferrous, fosfat, anodisasi dan metode lainnya. Dengan cara ini, pelapisan, pelapisan, pelapisan, dll. Konsep seperti lapisan, laminasi atau film yang dibentuk secara kimia disebut "penutup".
Pengukuran ketebalan lapisan telah menjadi proses terpenting yang diperlukan bagi pengguna di industri pengolahan logam untuk memeriksa kualitas produk jadi. Ini adalah sarana penting bagi produk untuk mencapai standar pertama. Saat ini, ketebalan lapisan umumnya diukur berdasarkan standar internasional terpadu di dalam dan luar negeri. Pemilihan metode dan instrumen pengujian non-destruktif untuk pelapisan menjadi lebih penting seiring dengan kemajuan bertahap dalam penelitian tentang sifat fisik bahan.
Metode pengujian non-destruktif yang relevan untuk pelapis terutama mencakup: metode pemotongan baji, metode intersepsi cahaya, metode elektrolisis, metode pengukuran perbedaan ketebalan, metode penimbangan, metode fluoresensi sinar-X, metode refleksi sinar-X, metode kapasitansi, metode pengukuran magnetik dan arus eddy. Hukum pengukuran dll. Kecuali lima metode terakhir, sebagian besar metode ini akan merusak produk atau permukaan produk. Itu adalah ujian yang merusak. Metode pengukurannya rumit dan lambat, dan sebagian besar cocok untuk pemeriksaan pengambilan sampel.
Metode refleksi sinar-X dan sinar-X dapat melakukan pengukuran non-kontak dan non-destruktif, namun perangkatnya rumit dan mahal serta rentang pengukurannya kecil. Karena terdapat sumber radioaktif, pengguna harus mematuhi peraturan proteksi radiasi. Umumnya digunakan untuk mengukur ketebalan setiap lapisan lapisan logam.
Metode kapasitansi umumnya hanya digunakan untuk menguji ketebalan lapisan insulasi pada konduktor yang sangat tipis.
Metode pengukuran magnetik dan metode pengukuran arus eddy, dengan semakin majunya teknologi, terutama diperkenalkannya teknologi mikroprosesor dalam beberapa tahun terakhir, pengukur ketebalan telah mengambil langkah besar menuju miniaturisasi, kecerdasan, multi-fungsi, presisi tinggi dan kepraktisan. Resolusi pengukuran telah mencapai 0.1μm, dan akurasinya bisa mencapai 1%. Ia juga memiliki karakteristik jangkauan aplikasi yang luas, rentang pengukuran yang luas, pengoperasian yang mudah dan harga yang murah. Ini adalah instrumen yang paling banyak digunakan dalam industri dan penelitian ilmiah.
