Prinsip dan aplikasi mikroskop optik jarak dekat
Mikroskop optik medan dekat (nama Inggris: SNOM) didasarkan pada prinsip deteksi dan pencitraan bidang non-radiasi, dapat menembus batas difraksi mikroskop optik biasa, penggunaan probe skala sub-panjang gelombang di bidang dekat rentang beberapa nanometer dari permukaan sampel untuk teknologi pemindaian dan pencitraan, dalam rentang observasi jarak dekat, pemindaian dalam sampel dan pada saat yang sama untuk mendapatkan resolusi yang lebih tinggi dari batas difraksi gambar topografi dan optik gambar Mikroskop.
Mikroskop optik jarak dekat cocok untuk pencitraan optik skala nano dan studi spektroskopi skala nano pada resolusi optik sangat tinggi. Resolusi mikroskop optik konvensional dipengaruhi oleh batas difraksi optik, dan resolusinya tidak melebihi skala panjang gelombang tersebut. Tidak seperti mikroskop optik konvensional, mikroskop optik jarak dekat menggunakan probe skala sub-panjang gelombang untuk memperoleh resolusi yang lebih kecil.
Prinsip mikroskop optik jarak dekat:
Penggunaan pandu gelombang serat optik yang menyatu atau terkorosi yang terbuat dari probe, dilapisi dengan film logam di bagian luarnya telah membentuk ujung bukaan optik (bukaan optik) berukuran diameter 15nm hingga 100nm dari jarak dekat. probe optik lapangan, dan kemudian dapat digunakan sebagai perpindahan presisi dan deteksi pemindaian bahan keramik piezoelektrik (keramik piezoelektrik) dengan gaya atom Mikroskop gaya atom (mikroskop gaya atom, AFM) untuk memberikan kontrol umpan balik ketinggian yang akurat, optik medan dekat probe akan sangat akurat (vertikal dan horizontal ke arah permukaan sampel resolusi spasial bisa sekitar 0,1nm dan 1nm) kontrol pada permukaan sampel pada ketinggian 1nm hingga 100nm, kontrol umpan balik spasial tiga dimensi hampir bidang Pemindaian (scanning), dan memiliki bukaan optik nano dari probe serat optik dapat digunakan untuk menerima atau mengirimkan informasi optik, sehingga memperoleh ruang nyata dari gambar optik medan dekat tiga dimensi, karena jarak antara itu dan bidang permukaan sampel jauh lebih kecil dari panjang gelombang cahaya umum, semua informasi yang diukur adalah informasi optik medan dekat, tanpa batas resolusi optik dari bidikan dikelilingi yang biasa umum batas optik medan jauh.
Penerapan mikroskop optik jarak dekat:
Mikroskop optik jarak dekat menerobos batas bypass optik tradisional, dapat langsung menggunakan cahaya untuk mengamati bahan nano, menganalisis struktur mikro dan cacat elemen nano, dan dalam beberapa tahun terakhir telah diterapkan untuk menganalisis komponen laser semikonduktor. Karena resolusinya yang tinggi, dapat digunakan untuk akses data dengan kepadatan tinggi. Saat ini, lebih dari 100 GB disk optik jarak dekat resolusi super telah berhasil diproduksi menggunakan teknologi ini. Ini juga dapat digunakan untuk analisis mikroskopis biomolekul dan fluoresensi protein jarak dekat.
Prinsip dan struktur mikroskop optik jarak dekat:
Secara umum resolusi mikroskop optik hanya beberapa ratus nanometer bila diamati dalam jarak jauh karena keterbatasan keliling gelombang cahaya. Namun, bila diamati dalam jarak dekat, belitan dan interferensi dapat dihindari, dan keterbatasan belitan dapat diatasi dengan meningkatkan resolusi hingga sekitar puluhan nanometer. Dalam struktur mikroskop optik jarak dekat, serat optik meruncing dengan bukaan puluhan nanometer di ujungnya digunakan sebagai probe. Jarak antara probe dan objek yang akan diukur dikontrol secara tepat dalam rentang observasi jarak dekat, dan keramik piezoelektrik yang dapat diposisikan dan dipindai secara tepat digunakan untuk melakukan pemindaian jarak dekat spasial tiga dimensi bersamaan dengan sistem kontrol umpan balik tinggi yang disediakan oleh mikroskop gaya atom. Probe serat optik menerima atau mentransmisikan sinyal optik untuk mendapatkan gambar optik jarak dekat 3D.
