Pengantar Kemampuan Mikroskop Confocal
Mikroskop konfokal terutama menggunakan teknologi pencitraan tangkapan 3D, yang menghasilkan pencitraan digital melalui-laser intensitas tinggi dari lubang jarum kamera digital, dan memiliki kemampuan resolusi kedalaman vertikal yang kuat.
Prinsip pencitraan mikroskop confocal
Gambar yang diperoleh ditangkap dengan memfokuskan cahaya dari bidang fokus melalui kamera digital lubang jarum, dan gambar 3D lengkap dikompilasi menggunakan perangkat lunak berdasarkan akumulasi urutan gambar dari bidang fokus berbeda.
Detail gambar yang diperbesar yang ditampilkan oleh sistem mikroskop confocal lebih tinggi dibandingkan mikroskop optik konvensional. Mikroskop optik tradisional seringkali dilengkapi dengan kamera CCD dengan sensitivitas rendah untuk menangkap gambar, yang tidak dapat mendeteksi intensitas cahaya rendah seperti fluoresensi. Sebaliknya, sistem mikroskop confocal menggunakan tabung photomultiplier yang sangat sensitif sebagai elemen pendeteksi, yang dapat menunjukkan sensitivitas tinggi terhadap sinyal fluoresensi lemah dan menghilangkan kebisingan latar belakang dengan mengurangi rentang eksitasi dan menggunakan pemotongan optik.
Di bawah kondisi perbesaran objektif yang sama, mikroskop confocal menampilkan gambar dengan detail morfologi yang lebih jelas dan halus, serta resolusi lateral yang lebih tinggi. Seperti alat yang ampuh untuk deteksi mikro nano, mikroskop confocal memiliki banyak perbedaan dari interferometer cahaya putih. Jika kita menggunakan satu kata untuk mendeskripsikannya, interferometer cahaya putih adalah "wen", sedangkan mikroskop confocal adalah "wu". Cahaya putih unggul dalam mendeteksi permukaan ultra halus tingkat sub nanometer dan mengejar nilai deteksi yang tepat; Namun, mikroskop confocal bagus dalam mendeteksi kontur kasar pada tingkat mikro nano. Meskipun resolusi pendeteksiannya sedikit lebih rendah, ia dapat menghasilkan gambar berwarna asli agar mudah diamati.
Mikroskop confocal seri VT6000 didasarkan pada teknologi confocal, dikombinasikan dengan modul pemindaian arah Z-presisi, algoritme pemodelan 3D, dll. Mikroskop ini dapat mengukur berbagai parameter permukaan termasuk kehalusan hingga kekasaran, reflektifitas rendah hingga reflektifitas tinggi, dan kekasaran, kerataan, profil geometris mikro, kelengkungan, dll. pada benda kerja dari tingkat nanometer hingga mikrometer. Hal ini dapat mengukur dan menganalisis fitur morfologi permukaan seperti profil permukaan, cacat permukaan, keausan, korosi, kerataan, kekasaran, waviness, celah pori, tinggi langkah, deformasi lentur, dan pemrosesan berbagai produk, komponen, dan bahan.
