Industri di mana pengukur ketebalan lapisan dapat digunakan
Pengukur ketebalan lapisan adalah produk yang baru dibuat, yang menawarkan keunggulan utama berikut dibandingkan dengan pengukur ketebalan lapisan yang lama:
1. Tingkat pengukuran cepat: 6 kali lipat dari seri TT lainnya;
2. Presisi tinggi: Setelah kalibrasi cepat, presisi produk dapat mencapai 1-2 persen . Item ini berpotensi meraih rating A di pasaran. Dibandingkan dengan produk rumahan serupa seperti Times, presisinya jauh lebih tinggi. Selain itu, harganya lebih mahal daripada barang impor seperti EPK;
3. Stabilitas: Barang-barang yang diproduksi di dalam negeri memiliki stabilitas penggunaan dan pengukuran yang unggul daripada barang-barang impor;
4. Fungsi, data, operasi, dan tampilan semuanya dalam bahasa Cina. Menurut standar nasional dan internasional yang bersangkutan, lapisan penutup yang dibuat untuk melindungi dan menghiasi permukaan bahan, seperti pelapisan, pelapisan, kelongsong, pelekatan, film yang dibentuk secara kimiawi, dll., disebut sebagai pelapisan. Dalam industri pengolahan dan rekayasa permukaan, mengukur ketebalan lapisan telah menjadi komponen penting dalam pemeriksaan kualitas dan merupakan persyaratan barang untuk memenuhi persyaratan tinggi. Ada standar khusus untuk ketebalan kelongsong pada barang ekspor negara saya dan proyek terkait luar negeri untuk menginternasionalkan produk.
Pemotongan baji, bagian optik, elektrolisis, pengukuran perbedaan ketebalan, penimbangan, fluoresensi sinar-X, hamburan balik -ray, kapasitansi, pengukuran magnetik, dan hukum pengukuran arus eddy adalah beberapa metode utama yang digunakan untuk menentukan ketebalan kelongsong. Lima teknik pertama ini adalah pengujian destruktif; teknik pengukurannya melelahkan dan lamban, dan sebagian besar cocok untuk pemeriksaan sampel. Meskipun peralatannya rumit dan mahal, dan rentang pengukurannya terbatas, prosedur sinar-X dan sinar-X adalah pengukuran non-kontak dan non-destruktif . Pengguna harus mematuhi undang-undang proteksi radiasi karena sumber radioaktif. Metode sinar-X dapat mengukur lapisan ganda, lapisan paduan, dan lapisan yang sangat tipis. Pengukuran pelapis dan pelapis dengan substrat dengan nomor atom lebih besar dari 3 keduanya sesuai untuk pendekatan -ray. Hanya ketika menentukan ketebalan lapisan isolasi pada konduktor tipis, metode kapasitansi digunakan.
