Panduan: Memilih Antara Mikroskop Tegak dan Terbalik
Mikroskop metalurgi tegak menghasilkan gambar tegak, sehingga sangat memudahkan observasi dan identifikasi. Selain menganalisis dan mengidentifikasi spesimen logam dengan tinggi 20–30 mm, spesimen ini juga banyak digunakan untuk bahan transparan, tembus cahaya, atau buram karena kesesuaiannya dengan kebiasaan melihat normal. Untuk target pengamatan yang lebih besar dari 3 μm dan lebih kecil dari 20 μm - seperti struktur permukaan dan jejak sermet, chip elektronik, sirkuit cetak, substrat LCD, film tipis, serat, bahan granular, dan pelapis - hasil pencitraan yang sangat baik dapat dicapai. Selain itu, sistem kamera eksternal dapat dengan mudah dihubungkan ke monitor dan komputer untuk pengamatan, penyimpanan, pengeditan, dan pencetakan gambar secara real-time, statis dan dinamis. Dikombinasikan dengan berbagai paket perangkat lunak, ini dapat memenuhi persyaratan yang lebih profesional dalam analisis metalografi, pengukuran, dan pengajaran interaktif.
Mikroskop metalurgi terbalik mengadopsi pencitraan bidang optik untuk mengidentifikasi dan menganalisis struktur mikro berbagai logam dan paduan, menjadikannya instrumen penting untuk penelitian metalurgi fisik. Mikroskop ini banyak digunakan di pabrik dan laboratorium untuk pemeriksaan kualitas pengecoran, pengujian bahan baku, dan analisis struktur metalografi setelah perlakuan atau pemrosesan panas, memberikan hasil analisis yang intuitif. Mikroskop ini adalah peralatan utama untuk evaluasi dan analisis kualitas dalam pengecoran, peleburan, dan perlakuan panas di industri pertambangan, metalurgi, manufaktur, dan pemrosesan mekanis.
Dalam beberapa tahun terakhir, karena industri mikroelektronika memerlukan mikroskop planar berdaya tinggi untuk produksi chip, mikroskop metalurgi telah diadopsi dan terus ditingkatkan di bidang ini untuk memenuhi kebutuhan industri tertentu.
Dengan mikroskop metalurgi terbalik, permukaan spesimen yang diamati menghadap ke bawah dan sejajar dengan permukaan panggung, sedangkan lensa objektif diposisikan di bawah panggung dan mengamati ke atas. Konfigurasi ini tidak dibatasi oleh tinggi spesimen, mudah dioperasikan, dan memiliki struktur kompak dan tampilan yang menarik. Basis mikroskop memiliki area penyangga yang besar dan pusat gravitasi yang rendah, memastikan stabilitas dan keandalan yang tinggi. Lensa mata dimiringkan pada 45 derajat ke permukaan penyangga, memberikan kenyamanan penglihatan.
