Fitur Mikroskop Probe Pemindaian
Scanning probe microscopy adalah mikroskop ketiga untuk mengamati struktur materi pada skala atom setelah mikroskop ion lapangan dan mikroskop elektron transmisi resolusi tinggi. Mengambil Scanning Tunneling Microscope (STM) sebagai contoh, resolusi lateralnya adalah 0.1~0.2nm, dan resolusi kedalaman vertikalnya adalah 0.01nm. Resolusi tersebut dapat dengan jelas mengamati atom atau molekul tunggal yang terdistribusi pada permukaan sampel. Pada saat yang sama, mikroskop probe pemindaian juga dapat melakukan penelitian observasi di udara, gas lain, atau lingkungan cair.
Mikroskop probe pemindaian memiliki karakteristik resolusi atom, transpor atom, dan mikroprosesor nano. Namun, karena prinsip kerja yang berbeda dari berbagai mikroskop pemindaian secara detail, informasi pada permukaan sampel yang dipantulkan oleh hasil yang diperoleh sangat berbeda. Scanning tunneling microscopy mengukur informasi distribusi stasiun elektron pada permukaan sampel, yang memiliki resolusi tingkat atom tetapi masih tidak dapat memperoleh struktur sebenarnya dari sampel. Mikroskop atom mendeteksi informasi interaksi antar atom, sehingga dapat diperoleh informasi susunan distribusi atom pada permukaan sampel, yaitu struktur nyata sampel. Namun di sisi lain, mikroskop atom tidak dapat mengukur informasi keadaan elektronik yang dapat dibandingkan dengan teori, sehingga keduanya memiliki kelebihan dan kekurangan masing-masing.
