Prinsip Klasifikasi dan Pengukuran Alat Pengukur Ketebalan Lapisan
Dengan semakin majunya teknologi, terutama dalam beberapa tahun terakhir dengan diperkenalkannya teknologi komputer mikro, alat pengukur ketebalan yang menggunakan metode magnet dan arus eddy telah mengalami kemajuan lebih lanjut menuju miniaturisasi, kecerdasan, multifungsi, presisi tinggi, dan kepraktisan mengenai prinsip klasifikasi dan pengukuran alat pengukur ketebalan lapisan. Resolusi pengukuran telah mencapai 0,1 mikron, dan akurasinya bisa mencapai 1%, yang telah meningkat pesat. Ini memiliki beragam aplikasi, rentang pengukuran yang luas, pengoperasian yang mudah, dan biaya rendah, menjadikannya alat ukur ketebalan yang banyak digunakan dalam industri dan penelitian ilmiah. Penggunaan metode non-destruktif tidak merusak lapisan atau substrat, dan memiliki kecepatan deteksi yang cepat, sehingga secara ekonomis dapat melakukan pekerjaan pengujian dalam jumlah besar.
Pengukuran ketebalan lapisan telah menjadi bagian penting dari industri pengolahan dan pemeriksaan kualitas rekayasa permukaan, dan merupakan sarana yang diperlukan agar produk dapat mencapai standar kualitas yang sangat baik. Untuk menginternasionalkan produk kami, terdapat persyaratan yang jelas mengenai ketebalan lapisan pada barang ekspor Tiongkok dan proyek terkait-luar negeri.
Metode pengukuran utama ketebalan lapisan meliputi metode pemotongan baji, metode pemotongan cahaya, metode elektrolisis, metode pengukuran perbedaan ketebalan, metode penimbangan, metode fluoresensi sinar X-, metode hamburan balik sinar beta, metode kapasitansi, metode pengukuran magnetik, dan metode pengukuran arus eddy. Lima metode pertama adalah deteksi kerugian, yang memiliki metode pengukuran rumit, kecepatan lambat, dan sebagian besar cocok untuk inspeksi pengambilan sampel.
Metode sinar X-dan sinar beta adalah pengukuran non-non-kontak-destruktif, namun peralatannya rumit dan mahal, serta rentang pengukurannya kecil. Karena adanya sumber radioaktif, pengguna harus mematuhi peraturan proteksi radiasi. Metode sinar X-dapat mengukur lapisan yang sangat tipis, lapisan ganda, dan lapisan paduan. Metode sinar beta cocok untuk mengukur lapisan dan substrat dengan nomor atom lebih besar dari 3. Metode kapasitansi hanya digunakan untuk mengukur ketebalan lapisan insulasi pada konduktor tipis.
Prinsip dan Instrumen Pengukur Ketebalan Lapisan: Prinsip Klasifikasi dan Pengukuran Pengukur Ketebalan Lapisan
