Memilih Antara Mikroskop Tegak dan Terbalik
Mikroskop metalografi, juga dikenal sebagai mikroskop material, terutama digunakan untuk mengamati struktur mikro logam. Mereka diklasifikasikan menjadi mikroskop metalografi tegak dan mikroskop metalografi terbalik.
Mikroskop metalografi tegak membentuk gambar tegak selama pengamatan, yang memberikan kemudahan bagi pengguna untuk mengamati dan mengidentifikasi sampel. Ia dapat menganalisis dan mengidentifikasi spesimen logam dengan tinggi 20–30 mm. Sejalan dengan kebiasaan menonton sehari-hari masyarakat, ini banyak diterapkan pada zat transparan, tembus cahaya, dan buram. Ini memberikan hasil pencitraan yang sangat baik untuk target pengamatan mulai dari lebih dari 3 μm hingga kurang dari 20 μm, seperti struktur permukaan dan jejak keramik logam, chip elektronik, sirkuit cetak, substrat LCD, film tipis, serat, bahan granular, dan pelapis. Selain itu, sistem kamera eksternal dapat dengan mudah dihubungkan ke layar tampilan dan komputer untuk melihat, menyimpan, mengedit, dan mencetak gambar secara real-time dan statis. Dikombinasikan dengan berbagai perangkat lunak, ini dapat memenuhi tuntutan metalografi profesional, pengukuran, dan pengajaran interaktif.
Mikroskop metalografi terbalik mengadopsi pencitraan bidang optik untuk mengidentifikasi dan menganalisis struktur mikro berbagai logam dan paduan. Ini adalah alat penting untuk penelitian metalografi dalam fisika logam. Banyak digunakan di pabrik dan laboratorium, alat ini melakukan pemeriksaan kualitas pengecoran, pengujian bahan baku, dan penelitian & analisis struktur metalografi bahan setelah perawatan proses, memberikan hasil analisis yang intuitif. Ini adalah peralatan penting untuk identifikasi kualitas dan analisis pengecoran, peleburan, dan perlakuan panas di industri pertambangan, metalurgi, manufaktur, dan pemrosesan mekanis.
Dalam beberapa tahun terakhir, industri mikroelektronika memerlukan teknologi mikroskopis planar pembesaran tinggi untuk mendukung produksi chip. Oleh karena itu, mikroskop metalografi telah diperkenalkan dan dipopulerkan di bidang ini, dengan perbaikan terus-menerus untuk memenuhi kebutuhan industri khusus.
Untuk mikroskop metalografi terbalik, permukaan pengamatan spesimen menghadap ke bawah dan rata dengan permukaan meja kerja. Lensa objektif dipasang di bawah meja kerja dan mengamati ke atas. Mode observasi ini tidak dibatasi oleh ketinggian spesimen. Instrumen ini mudah dioperasikan dengan tampilan yang ringkas dan elegan. Ini memiliki area bantalan dasar yang besar dan pusat gravitasi rendah untuk pengoperasian yang stabil dan andal. Lensa mata dimiringkan 45 derajat relatif terhadap permukaan bantalan untuk memberikan pengamatan yang nyaman.
