metode penyesuaian mikroskop metalografi,
Mikroskop metalografi adalah kombinasi sempurna dari teknologi mikroskop optik, teknologi konversi fotolistrik, dan teknologi pemrosesan gambar komputer untuk berkembang menjadi produk berteknologi tinggi, yang dapat dengan mudah mengamati gambar metalografi dengan komputer, dan atlas metalografi, peringkat, Grafik keluaran, pencetakan, dll. Seperti yang kita semua tahu, komposisi paduan, perlakuan panas...
Mikroskop metalografi adalah kombinasi sempurna dari teknologi mikroskop optik, teknologi konversi fotolistrik, dan teknologi pemrosesan gambar komputer untuk berkembang menjadi produk berteknologi tinggi, yang dapat dengan mudah mengamati gambar metalografi dengan komputer, dan atlas metalografi, peringkat, Grafik keluaran, pencetakan, dll. Seperti kita ketahui bersama, komposisi paduan, perlakuan panas, dan teknologi pemrosesan panas dan dingin secara langsung memengaruhi perubahan struktur mekanisme internal bahan logam, sehingga sifat mekanik bagian tersebut berubah. Oleh karena itu, telah menjadi sarana penting produksi industri untuk mengamati dan memeriksa struktur mekanisme internal logam dengan menganalisis mikroskop metalografi. Jadi apa metode penyesuaian dan penggunaan mikroskop metalografi? Editor berikut akan memperkenalkannya kepada Anda.
Metode penyesuaian mikroskop metalografi:
1. Penyesuaian tujuan 10x
Dalam proses penerapan mikroskop metalografi, lensa objektif 10x adalah lensa objektif umum standar dalam pekerjaan pemfokusan. Pada awalnya, dari lensa objektif 10x ke lensa objektif perbesaran lebih rendah, atau, mengubah dari lensa objektif 10x ke lensa objektif perbesaran lebih tinggi, tidak akan ada perubahan drastis. Hal lain adalah bahwa kedalaman fokus lensa objektif pembesaran rendah panjang, dan penglihatan telanjang pengamat tidak berada di tengah sesuka hati, dan kontak antara sampel dan lensa dapat terjadi dengan mudah saat beralih langsung ke objektif pembesaran tinggi. lensa.
Lensa objektif 10x bukan hanya lensa objektif umum standar dalam pekerjaan pemfokusan, tetapi juga melibatkan banyak pekerjaan praktis. Misalnya, dalam banyak standar nasional yang relevan untuk inspeksi metalografi, yang paling umum adalah membandingkan spektrum standar referensi dalam kondisi pengamatan 100 kali, dan perolehan 100 kali berasal dari lensa objektif 10 kali dan lensa mata 10 kali. Mulai dari kontrol teoretis, selama tidak acak atau jahat, tindakan kontrol selanjutnya harus membuat lensa objektif dekat bidang fokus. Pada kondisi lensa objektif 10x, setelah sampel ditempatkan dengan benar, harus ada gambar yang buram, atau bahkan gambar yang relatif jelas. , hanya sedikit perawatan dan penyempurnaan.
2. Masuk dan keluar yang relevan
Mengenai masalah pemfokusan setelah beralih dari lensa objektif pembesaran rendah ke lensa objektif pembesaran tinggi, karena peningkatan proses pembuatan mikroskop saat ini, kinerja parfokal lensa objektif mikroskop yang berbeda relatif baik, terutama untuk produk luar negeri. Saat mengamati, terkadang Anda tidak perlu memfokuskan kembali lagi. Gambarnya sudah sangat jelas; mungkin, hanya menambah jarak objek sedikit, dan tingkat penyesuaiannya jelas bukan konsep 1 ~ 3 lingkaran, yaitu konsep 1 ~ 3 derajat (sudut), yang sangat rumit. kuantitas.
3. Tentang konverter lensa objektif
Saat mengganti lensa objektif, jangan mendorong lensa objektif secara langsung dengan tangan, karena dapat menyebabkan ulir sekrup lensa objektif yang kuat menjadi longgar dan membuat sumbu optik miring. Lensa objektif mikroskop dan sistem kamera digital mikroskopis disekrup pada konverter lensa objektif. Saat mengganti lensa objektif yang berbeda, ubah konverter lensa objektif hingga telinga mendengar suara "klik" kecil dan rasakan resistensi meningkat tajam. Saat ini, lensa objektif berada pada posisi kerja normal: tegak lurus terhadap bidang panggung.
Konten di atas merupakan pengantar penyesuaian dan penggunaan mikroskop metalografi. Mikroskop metalografi secara khusus digunakan untuk mengamati benda buram seperti logam dan mineral. Objek buram ini tidak dapat diamati dalam mikroskop cahaya biasa yang ditransmisikan. Perbedaan utama antara mikroskop metalografi dan mikroskop biasa adalah yang pertama diterangi dengan cahaya yang dipantulkan, sedangkan yang kedua diterangi dengan cahaya yang ditransmisikan. Dalam mikroskop metalografi, sinar iluminasi diproyeksikan dari arah lensa objektif ke permukaan objek yang akan diamati, dipantulkan oleh permukaan objek dan kemudian dikembalikan ke lensa objektif untuk pencitraan. Metode pencahayaan yang dipantulkan ini juga banyak digunakan dalam pendeteksian wafer silikon sirkuit terpadu.
