Apa perbedaan antara mikroskop elektron dan mikroskop cahaya dalam mengamati objek?
Ada perbedaan yang signifikan antara mikroskop optik dan mikroskop elektron, termasuk berbagai sumber cahaya, lensa, prinsip pencitraan, resolusi, kedalaman bidang, dan metode persiapan sampel. Mikroskop optik, umumnya dikenal sebagai cermin cahaya, adalah jenis mikroskop yang menggunakan cahaya tampak sebagai sumber iluminasi. Mikroskop optik adalah instrumen optik yang menggunakan prinsip -prinsip optik untuk memperbesar dan gambar objek kecil yang tidak dapat dibedakan oleh mata manusia, untuk mengekstraksi informasi tentang struktur mikro. Ini memiliki berbagai aplikasi dalam biologi sel.
Mikroskop optik umumnya terdiri dari panggung, sistem pencahayaan sorotan, lensa objektif, lensa mata, dan mekanisme pemfokusan. Tahap digunakan untuk memegang objek yang diamati. Tombol fokus dapat digunakan untuk menggerakkan mekanisme pemfokusan, memungkinkan penyesuaian panggung kasar atau halus, memfasilitasi pencitraan yang jelas dari objek yang diamati.
Gambar yang dibentuk oleh mikroskop optik terbalik (terbalik, pertukaran kanan-kanan). Mikroskop elektron adalah tempat kelahiran produk teknologi kelas atas, yang memiliki kesamaan dengan mikroskop optik yang biasanya kami gunakan, tetapi sangat berbeda dari mereka. Pertama, mikroskop optik menggunakan sumber cahaya. Mikroskop elektron, di sisi lain, menggunakan balok elektron, dan hasil yang dapat dilihat dari keduanya berbeda, apalagi pembesaran. Misalnya, ketika mengamati sel, mikroskop cahaya hanya dapat melihat sel dan beberapa organel, seperti mitokondria dan kloroplas, tetapi hanya dapat melihat keberadaan sel -selnya dan tidak dapat melihat struktur organel spesifik. Mikroskop elektron dapat memberikan pandangan yang lebih rinci tentang struktur organel yang rumit, dan bahkan mengungkapkan molekul besar seperti protein. Mikroskop elektron meliputi mikroskop elektron transmisi, pemindaian mikroskop elektron, mikroskop elektron refleksi, dan mikroskop elektron emisi. Di antara mereka, pemindaian mikroskop elektron lebih banyak digunakan.
Pemindaian mikroskop elektron banyak digunakan dalam analisis dan penelitian material, terutama untuk analisis fraktur material, analisis komposisi area mikro, berbagai analisis morfologi permukaan lapisan, pengukuran ketebalan lapisan, morfologi struktur mikro dan analisis material nano. Ini juga dapat dikombinasikan dengan difraktometer sinar-X atau spektrometer energi elektron untuk membentuk mikroproba elektron untuk analisis komposisi material, dll.
Pemindaian Mikroskop Elektron (SEC), disingkat SEC, adalah jenis baru instrumen optik elektron. Ini terdiri dari tiga bagian utama: sistem vakum, sistem balok elektron, dan sistem pencitraan. Ini memodulasi pencitraan menggunakan berbagai sinyal fisik yang bersemangat dengan pemindaian sinar elektron yang berfokus pada permukaan sampel. Elektron insiden menggairahkan elektron sekunder pada permukaan sampel. Mikroskop mengamati elektron yang tersebar dari setiap titik. Kristal kilau ditempatkan di samping sampel menerima elektron sekunder ini, memodulasi intensitas balok elektron tabung gambar setelah amplifikasi, dan mengubah kecerahan layar tabung gambar. Kumparan defleksi tabung sinar katoda dipindai secara sinkron dengan sinar elektron pada permukaan sampel, sehingga layar fluorescent tabung sinar katoda menampilkan gambar morfologi permukaan sampel. Ini memiliki karakteristik persiapan sampel sederhana, pembesaran yang dapat disesuaikan, jangkauan luas, resolusi gambar tinggi, dan kedalaman bidang yang besar.
Kinerja aplikasi mikroskop elektron transmisi:
1. Analisis Cacat Kristal. Semua struktur yang mengganggu periode kisi normal secara kolektif disebut sebagai cacat kristal, seperti lowongan, dislokasi, batas butir, endapan, dll. Struktur yang mengganggu periodisitas kisi -kisi akan menyebabkan perubahan dalam kondisi difraksi di daerah masing -masing.
2. Analisis Organisasi. Selain berbagai cacat yang dapat menghasilkan pola difraksi yang berbeda, struktur kristal dan analisis orientasi dapat dilakukan saat mengamati morfologi jaringan.
3. Pengamatan in situ. Dengan menggunakan tahap sampel yang sesuai, percobaan in-situ dapat dilakukan dalam mikroskop elektron transmisi. Misalnya, menggunakan sampel tarik regangan untuk mengamati proses deformasi dan frakturnya.
4. Teknologi mikroskop resolusi tinggi. Meningkatkan resolusi untuk pengamatan yang lebih dalam terhadap struktur mikro materi selalu menjadi tujuan yang dikejar oleh orang -orang. Mikroskop elektron resolusi tinggi menggunakan perubahan fase balok elektron untuk secara koheren gambar dua atau lebih balok elektron. Dalam kondisi di mana resolusi mikroskop elektron cukup tinggi, semakin banyak balok elektron yang digunakan, semakin tinggi resolusi gambar, dan bahkan dapat digunakan untuk pencitraan struktur atom sampel tipis.
