Apa perbedaan antara mikroskop elektron dan mikroskop optik dalam mengamati benda?
Mikroskop optik sangat berbeda dari mikroskop elektron, dengan sumber cahaya berbeda, lensa berbeda, prinsip pencitraan berbeda, resolusi berbeda, kedalaman bidang berbeda, dan metode persiapan sampel berbeda. Mikroskop optik, umumnya dikenal sebagai mikroskop cahaya, adalah mikroskop yang menggunakan cahaya tampak sebagai sumber penerangan. Mikroskop optik adalah alat optik yang menggunakan prinsip optik untuk memperbesar dan menggambarkan benda-benda kecil yang tidak dapat dibedakan oleh mata manusia, sehingga orang dapat mengekstraksi informasi struktur mikro. Ini banyak digunakan dalam biologi sel. Mikroskop optik umumnya terdiri dari panggung, sistem pencahayaan lampu sorot, lensa objektif, lensa mata, dan mekanisme pemfokusan. Panggung digunakan untuk menampung objek yang akan diamati. Mekanisme penyesuaian fokus dapat digerakkan oleh kenop penyesuaian fokus, dan panggung dapat disesuaikan secara kasar atau halus untuk memfasilitasi pencitraan yang jelas dari objek yang diamati. Bayangan yang dibentuk oleh mikroskop optik adalah bayangan terbalik (terbalik, kiri dan kanan dapat dipertukarkan). Mikroskop elektron adalah kelahiran produk teknologi canggih. Ini mirip dengan mikroskop optik yang biasa kita gunakan, tetapi sangat berbeda dengan mikroskop optik. Pertama, mikroskop optik memanfaatkan sumber cahaya. Mikroskop elektron menggunakan berkas elektron, dan hasil yang terlihat oleh keduanya berbeda. Anggap saja perbesarannya berbeda. Misalnya, ketika mengamati sel, mikroskop cahaya hanya dapat melihat sel dan beberapa organel, seperti mitokondria dan kloroplas, tetapi hanya keberadaan selnya yang dapat dilihat, tetapi struktur spesifik organel tidak dapat dilihat. Mikroskop elektron dapat melihat struktur halus organel dengan lebih detail, bahkan makromolekul seperti protein. Mikroskop elektron termasuk mikroskop elektron transmisi, mikroskop elektron pemindaian, mikroskop elektron refleksi, dan mikroskop elektron emisi. Diantaranya, mikroskop elektron pemindaian lebih banyak digunakan. Pemindaian mikroskop elektron banyak digunakan dalam analisis dan penelitian bahan. Hal ini terutama digunakan dalam analisis fraktur material, analisis komponen mikro-area, analisis morfologi permukaan berbagai lapisan, pengukuran ketebalan lapisan, morfologi struktur mikro dan analisis bahan nano. Kombinasi difraktometer sinar-X atau spektrometer energi elektron merupakan mikroprobe elektronik untuk analisis komposisi bahan, dll. Scanning Electron Microscope (SEC), disingkat SEC, adalah jenis instrumen optik elektron baru. Ini terdiri dari tiga bagian: sistem vakum, sistem berkas elektron dan sistem pencitraan. Ini menggunakan berbagai sinyal fisik yang tereksitasi ketika berkas elektron yang terfokus halus memindai permukaan sampel untuk memodulasi pencitraan. Elektron yang datang menyebabkan elektron sekunder tereksitasi dari permukaan sampel. Apa yang diamati mikroskop adalah elektron yang tersebar dari setiap titik, dan kristal kilau yang ditempatkan di sebelah sampel menerima elektron sekunder ini, memodulasi intensitas berkas elektron tabung gambar setelah amplifikasi, dan mengubah kecerahan layar tabung gambar. Kumparan defleksi kinescope terus memindai secara sinkron dengan berkas elektron pada permukaan sampel, sehingga layar fluoresen kinescope menampilkan gambar topografi permukaan sampel. Ini memiliki karakteristik persiapan sampel sederhana, perbesaran yang dapat disesuaikan, jangkauan luas, resolusi gambar tinggi, dan kedalaman bidang yang besar. Kinerja aplikasi mikroskop elektron transmisi: 1. Analisis cacat kristal. Semua struktur yang menghancurkan periode kisi normal secara kolektif disebut cacat kristal, seperti kekosongan, dislokasi, batas butir, dan endapan. Struktur yang merusak periodisitas kisi ini akan menyebabkan perubahan kondisi difraksi daerah di mana cacat berada, membuat kondisi difraksi daerah di mana cacat terletak berbeda dari daerah normal, sehingga menunjukkan yang sesuai perbedaan kecerahan dan kegelapan pada layar neon. 2. Analisis organisasi. Selain berbagai cacat yang dapat menghasilkan pola difraksi yang berbeda, mereka dapat digunakan untuk menganalisis struktur dan orientasi kristal sekaligus mengamati morfologi strukturnya. 3. Pengamatan di tempat. Dengan tahapan sampel yang sesuai, eksperimen in situ dapat dilakukan di TEM. Misalnya, proses deformasi dan patahan dapat diamati dengan meregangkan sampel dengan regangan. 4. Teknologi mikroskop resolusi tinggi. Meningkatkan resolusi sehingga kita dapat mengamati struktur mikro materi lebih dalam telah menjadi tujuan yang terus dikejar orang. Mikroskop elektron resolusi tinggi menggunakan perubahan fase berkas elektron, dan pencitraan koheren dibentuk oleh lebih dari dua berkas elektron. Dengan syarat resolusi mikroskop elektron cukup tinggi, semakin banyak berkas elektron yang digunakan, semakin tinggi resolusi gambarnya, bahkan dapat digunakan untuk mencitrakan struktur atom sampel tipis.
