Apa faktor yang mempengaruhi akurasi pengukuran ketika pengukur ketebalan lapisan mengukur ketebalan film kering?
1. Ketebalan lapisan penutup
Ketidakpastian pengukuran adalah karakteristik yang melekat dari metode pengukuran ketebalan arus eddy. Untuk lapisan penutup yang lebih tipis (misalnya kurang dari 25 μ m), ketidakpastian pengukuran adalah nilai konstan, terlepas dari ketebalan lapisan penutup, dan ketidakpastian setiap pengukuran setidaknya 0. 5 μ m. Untuk instrumen, ketidakpastian ini berkisar dari 0. 5 μ m hingga 1 μ m. Untuk lapisan penutup yang lebih tebal dengan ketebalan lebih besar dari 25 μ m, diperlukan rasio ketebalan tertentu. Untuk instrumen ini, ketidakpastian adalah 2% dari ketebalan lapisan penutup.
Untuk lapisan penutup dengan ketebalan kurang dari atau sama dengan 5 μ m, nilai ketebalan harus diambil sebagai rata -rata beberapa pengukuran.
Untuk lapisan penutup dengan ketebalan kurang dari 3 μ m, nilai ketebalan film tidak dapat diukur secara akurat.
2. Konduktivitas logam dasar
Nilai pengukuran metode pengukuran ketebalan arus eddy akan dipengaruhi oleh konduktivitas logam dasar. Konduktivitas logam terkait dengan komposisi material dan perlakuan panas. Pengaruh konduktivitas pada pengukuran bervariasi secara signifikan tergantung pada produsen dan model instrumen. Pengukuran instrumen ini dipengaruhi secara minimal oleh konduktivitas logam dasar.
3. Ketebalan logam dasar
Setiap instrumen memiliki nilai ketebalan kritis untuk logam dasar, di luar nilai yang diukur tidak akan dipengaruhi oleh peningkatan ketebalan logam dasar. Nilai ketebalan kritis ini tergantung pada frekuensi operasi sistem probe instrumen dan konduktivitas logam dasar. Nilai ketebalan kritis dari instrumen ini kira -kira {{0}}. 3 ~ 0,4 mm.
Tidak dapat diandalkan untuk menumpuk sampel dengan ketebalan logam dasar di bawah tingkat kritis dengan bahan yang tidak dilapisi dengan bahan dan ketebalan yang sama.
4. Efek tepi
Pengukur ketebalan arus eddy sensitif terhadap diskontinuitas permukaan spesimen. Pengukuran yang terlalu dekat dengan tepi sampel tidak dapat diandalkan. Jika perlu diukur pada sampel area kecil atau sampel strip sempit, bahan yang tidak dilapisi dengan bentuk yang sama dapat digunakan sebagai substrat untuk mengkalibrasi ulang instrumen. Untuk instrumen ini, ketika area pengukuran kurang dari 150 mm2 atau lebar sampel kurang dari 12 mm, instrumen harus dikalibrasi ulang pada bahan yang tidak dilapisi yang sesuai.
5. Kelengkungan
Perubahan kelengkungan sampel akan mempengaruhi nilai yang diukur. Semakin kecil kelengkungan sampel, semakin besar dampak pada nilai yang diukur. Untuk instrumen ini, ketika mengukur sampel dengan diameter kurang dari 50 mm, instrumen harus dikalibrasi ulang pada bahan yang tidak dilapisi dengan diameter yang sama.
6. Kekasaran permukaan
Kekasaran permukaan logam dasar dan lapisan penutup memiliki dampak pada nilai yang diukur. Mengambil rata -rata beberapa pengukuran di lokasi yang berbeda dapat mengurangi dampak ini. Jika permukaan logam dasar kasar, titik nol instrumen harus dikalibrasi pada beberapa posisi pada bahan logam yang sesuai sebelum pelapisan.
