Apa klasifikasi mikroskop inspeksi industri?
Mikroskop inspeksi industri adalah peralatan inspeksi yang banyak digunakan di bidang inspeksi industri modern, terutama digunakan untuk mengamati struktur mikro, evaluasi kualitas, dan deteksi cacat benda kecil. Menurut skenario aplikasi yang berbeda dan persyaratan khusus, mikroskop inspeksi industri dapat dibagi menjadi berbagai jenis peralatan. Artikel ini akan memperkenalkan beberapa mikroskop inspeksi industri yang umum.
Pertama, adanya mikroskop video yang tidak memerlukan lensa mata dan dapat diamati langsung melalui layar sehingga tidak mudah lelah saat observasi. Selain itu, mikroskop video mengadopsi bodi terintegrasi yang memiliki keunggulan seperti pergerakan mudah, pengoperasian sederhana, dan bidang pandang luas. Ini banyak digunakan pada perangkat elektronik, komponen plastik, sirkuit terpadu, bahan kimia, keramik kaca, dan bidang lainnya.
Kedua, mikroskop alat dapat digunakan untuk mengukur dimensi, sudut, dan parameter lain dari benda kerja dalam rentang pengukuran. Ini adalah perangkat multifungsi yang banyak digunakan dalam aplikasi seperti pengujian papan sirkuit, pengujian perangkat keras, dan pengujian metrologi.
Selain itu, terdapat mikroskop DIC interferensi diferensial, dipasangkan dengan objektif jarak kerja jauh akromatik bidang datar profesional, menggunakan teknologi DIC, dan sumber cahaya koaksial yang ditargetkan. Seluruh bidang pandang memiliki warna interferensi yang seragam, gambar jernih, dan kontras tinggi. Membuat perbedaan ketinggian kecil pada permukaan benda uji menghasilkan efek relief yang signifikan, yang dapat dengan jelas mengidentifikasi retakan, tonjolan, partikel, dan lubang.
Sebagai salah satu peralatan penting dalam bidang pengujian industri modern, mikroskop inspeksi industri memiliki beragam jenis dan skenario aplikasi. Dalam proses pembelian dan penggunaan yang sebenarnya, penting untuk memilih jenis dan perbesaran peralatan yang sesuai berdasarkan kebutuhan spesifik dan karakteristik sampel untuk mencapai efek deteksi dan observasi tingkat tinggi.
