Penggunaan mikroskop metalografi tegak versus mikroskop metalografi terbalik
Perbedaan antara tegak dan terbalik adalah sampel tegak ditempatkan di bawah, dan sampel terbalik ditempatkan di atas. Tujuan yang tegak mengarah ke bawah, sedangkan tujuan yang terbalik mengarah ke atas.
Mikroskop metalografi terbalik, karena permukaan pengamatan sampel bertepatan dengan permukaan meja kerja ke bawah, maka lensa objektif pengamatan terletak di bawah meja kerja, dan diamati ke atas. Bentuk pengamatan ini tidak dibatasi oleh tinggi sampel. Saat menyiapkan sampel, hanya satu permukaan observasi yang datar. Oleh karena itu, ini banyak digunakan di laboratorium pabrik, lembaga penelitian ilmiah, dan perguruan tinggi. Dasar mikroskop metalografi terbalik memiliki area pendukung yang besar dan pusat gravitasi yang rendah, yang aman, stabil, dan andal. Lensa mata dan permukaan pendukungnya dimiringkan pada 45 derajat, membuat pengamatan menjadi nyaman.
Mikroskop metalografi tegak mempunyai fungsi dasar yang sama dengan mikroskop metalografi terbalik, kecuali untuk analisis dan identifikasi sampel logam dengan tinggi 20-30mm, karena sesuai dengan kebiasaan masyarakat sehari-hari, lebih banyak digunakan secara transparan , zat tembus cahaya atau buram. Mikroskop metalurgi tegak membentuk gambar positif selama pengamatan, yang memberikan kemudahan besar bagi pengamatan dan identifikasi pengguna. Selain analisis dan identifikasi sampel logam dengan tinggi 20-30mm, target pengamatan yang lebih besar dari 3 mikron dan kurang dari 20 mikron, seperti sermet, chip elektronik, sirkuit cetak, substrat LCD, film, serat, benda granular, pelapis dan bahan lain di permukaan Struktur dan jejaknya dapat memiliki efek pencitraan yang baik.
Pemeliharaan dan penyimpanan tahap mikroskop metalografi
Sesuai dengan persyaratan mikroskop metalografi, tahapan mikroskop metalografi tidak memerlukan kekuatan mekanik yang tinggi, tetapi kerataan meja dan vertikalitas sumbu sistem optik sangat tinggi. Jika tidak, meskipun performa lensa objektif sangat baik, hal ini akan mempengaruhi keseragaman definisi bidang pandang. Oleh karena itu, sebaiknya hindari meletakkan sampel dengan berat lebih dari 2 kg di atas panggung, agar panggung tidak terbentur, dan jangan memukul meja dengan palu atau benda lain untuk mencegah deformasi meja dan mengurangi kinerja. instrumen. Letakkan benda berat di atas panggung dalam waktu lama. Saat mikroskop tidak digunakan, ambil sampel yang berat untuk mencegah kerusakan pada mekanisme pengangkatan. Tambahkan gemuk secukupnya secara teratur ke bagian yang bergerak.
Saat menggunakan mikroskop metalografi pada musim dingin, terkadang Anda merasa pergerakan panggung kurang fleksibel. Hal ini disebabkan oleh pendinginan dan pemadatan minyak pelumas atau peningkatan viskositas. Saat ini, bensin bisa dijatuhkan ke empat lubang kecil di atas panggung. Larutkan gemuk yang ada di dalam lubang secara perlahan, kemudian keluarkan panggung dan pelat geser, bersihkan oli dengan bensin, dan ganti dengan oli pelumas yang sesuai, maka kesalahan ini dapat dihilangkan.
