Prinsip pengukuran arus eddy untuk pengukur ketebalan lapisan
Sinyal komunikasi frekuensi tinggi menghasilkan medan elektromagnetik di kumparan probe, dan ketika probe mendekati konduktor, arus eddy terbentuk di dalamnya. Semakin dekat probe ke substrat konduktif, semakin besar arus eddy dan impedansi refleksi. Tindakan umpan balik ini mencirikan jarak antara probe dan substrat konduktif, yang merupakan ketebalan lapisan non-konduktif pada substrat konduktif. Karena jenis probe pengukur ketebalan lapisan ini dirancang khusus untuk mengukur ketebalan lapisan pada substrat logam non-feromagnetik, maka probe ini biasanya disebut sebagai probe non-magnetik. Probe non-magnetik menggunakan bahan frekuensi tinggi sebagai inti kumparan. Dibandingkan dengan prinsip induksi magnetik, perbedaan utamanya adalah probe pengukur ketebalan lapisan berbeda, frekuensi sinyal berbeda, dan ukuran sinyal serta hubungan skala berbeda. Pengukur ketebalan lapisan yang menggunakan prinsip arus eddy dapat mengukur lapisan non-konduktif pada semua substrat konduktif, seperti cat, pelapis plastik, dan film anodisasi pada permukaan pesawat luar angkasa, kendaraan, peralatan rumah tangga, pintu dan jendela paduan aluminium, dan lainnya. produk aluminium. Bahan pelapis memiliki tingkat konduktivitas tertentu, yang juga dapat diukur melalui kalibrasi, namun rasio konduktivitas antara keduanya harus berbeda setidaknya 3-5 kali. Meskipun substrat baja juga merupakan konduktor, pengukuran ketebalan lapisan masih lebih tepat menggunakan prinsip magnet untuk tugas tersebut.
Beberapa faktor yang mempengaruhi pengukuran alat pengukur ketebalan lapisan. Metode magnetik untuk mengukur ketebalan dipengaruhi oleh perubahan sifat logam substrat (dalam aplikasi praktis, perubahan magnetik pada baja karbon rendah dapat dianggap kecil). Untuk menghindari pengaruh perlakuan panas dan faktor kerja dingin, instrumen harus dikalibrasi menggunakan potongan standar dengan sifat yang sama dengan logam substrat spesimen; Konduktivitas logam dasar berdampak pada pengukuran, dan konduktivitas logam dasar berkaitan dengan komposisi bahan dan metode perlakuan panas. Gunakan potongan standar dengan sifat yang sama dengan logam dasar spesimen untuk mengkalibrasi instrumen; Setiap instrumen mempunyai ketebalan kritis, yang diatasnya pengukuran tidak dipengaruhi oleh ketebalan logam dasar; Peka terhadap perubahan tajam pada bentuk permukaan spesimen, pengukuran di dekat tepi atau sudut dalam spesimen tidak dapat diandalkan; Kelengkungan spesimen berdampak pada pengukuran, dan meningkat secara signifikan seiring dengan berkurangnya radius kelengkungan. Oleh karena itu, pengukuran pada permukaan benda uji yang bengkok juga tidak dapat diandalkan; Probe akan menyebabkan deformasi pada spesimen lapisan lunak, sehingga data yang andal tidak dapat diukur pada spesimen tersebut; Kekasaran permukaan logam dasar dan pelapis berdampak pada pengukuran. Ketika kekasaran meningkat, dampaknya pun meningkat. Permukaan yang kasar dapat menyebabkan kesalahan sistematis dan tidak disengaja. Selama setiap pengukuran, jumlah pengukuran harus ditingkatkan pada posisi berbeda untuk mengatasi kesalahan yang tidak disengaja ini. Jika logam substrat kasar, maka perlu mengambil beberapa posisi pada spesimen logam substrat yang tidak dilapisi dengan kekasaran yang sama untuk mengkalibrasi titik nol instrumen, atau melarutkan dan menghilangkan lapisan dengan larutan yang tidak menimbulkan korosi pada logam substrat, dan lalu kalibrasi titik nol instrumen; Medan magnet kuat yang dihasilkan oleh berbagai peralatan listrik di sekitarnya dapat sangat mengganggu pekerjaan pengukuran ketebalan magnet; Zat-zat melekat yang menghalangi kontak dekat antara probe dan permukaan pelapis harus dihilangkan. Selama pengukuran, perlu untuk menjaga tekanan konstan, menjaga probe tegak lurus dengan permukaan spesimen, dan pengukur ketebalan lapisan dapat mencapai pengukuran.
