Perbedaan antara penerapan mikroskop metalografi tegak dan mikroskop metalografi terbalik
Perbedaan antara penerapan mikroskop metalografi tegak dan mikroskop metalografi terbalik
Perbedaan antara tegak dan terbalik hanyalah bahwa sampel tegak ditempatkan di bawah, dan sampel terbalik ditempatkan di atas. Tujuan tegak mengarah ke bawah, tujuan terbalik mengarah ke atas.
Mikroskop metalurgi terbalik, karena permukaan pengamatan sampel bertepatan dengan permukaan meja kerja ke bawah, lensa objektif pengamatan terletak di bawah meja kerja dan diamati ke atas, bentuk pengamatan ini tidak dibatasi oleh ketinggian sampel, selama satu permukaan pengamatan datar saat menyiapkan sampel Oleh karena itu, banyak digunakan di laboratorium pabrik, lembaga penelitian ilmiah, dan perguruan tinggi. Basis mikroskop metalografi terbalik memiliki area pendukung yang besar, pusat gravitasi rendah, operasi yang stabil dan andal, dan lensa mata serta permukaan pendukungnya miring pada 45 derajat, membuat pengamatan menjadi nyaman.
Mikroskop metalografi tegak memiliki fungsi dasar yang sama dengan mikroskop metalografi terbalik, kecuali untuk analisis dan identifikasi sampel logam dengan tinggi 20-30mm, karena sesuai dengan kebiasaan masyarakat sehari-hari, lebih banyak digunakan dalam transparan , bahan tembus cahaya atau buram. Mikroskop metalurgi tegak membentuk citra positif selama pengamatan, yang sangat memudahkan pengamatan dan identifikasi pengguna. Selain analisis dan identifikasi sampel logam dengan tinggi 20-30mm, target pengamatan yang lebih besar dari 3 mikron dan kurang dari 20 mikron, seperti cermet, chip elektronik, sirkuit tercetak, substrat LCD, film, serat, benda granular, pelapis dan bahan lain di permukaan Struktur dan jejak dapat memiliki efek pencitraan yang baik.
