Perbedaan antara mikroskop kekuatan atom dan mikroskop optik dan mikroskop elektron
Perbedaan utama antara AFM dan teknologi pesaing seperti mikroskop optik dan elektron adalah bahwa AFM tidak menggunakan lensa atau berkas cahaya. Dengan demikian, tidak dibatasi oleh resolusi spasial akibat difraksi dan aberasi, dan tidak memerlukan persiapan ruang untuk mengarahkan pancaran (dengan menciptakan ruang hampa) dan menodai sampel.
Ada beberapa jenis mikroskop pemindaian, termasuk pemindaian mikroskop probe (termasuk AFM, scanning tunneling microscopy (STM) dan near-field scanning optical microscopy (SNOM/NSOM), STED microscopy (STED), serta scanning electron microscopy dan elektrokimia atom kekuatan mikroskop EC -AFM). Meskipun SNOM dan STED menerangi sampel dengan cahaya tampak, inframerah, dan bahkan terahertz, resolusinya tidak dibatasi oleh batas difraksi.
