Penerapan mikroskop infra merah pada perangkat mikro di industri elektronik
Dengan berkembangnya nanoteknologi, pendekatan miniaturisasi top-down{0}down semakin banyak diterapkan dalam bidang teknologi semikonduktor. Kita biasa menyebut teknologi IC “mikroelektronik” karena ukuran transistor berada pada kisaran mikrometer (10-6 meter). Namun teknologi semikonduktor berkembang sangat pesat, maju satu generasi setiap dua tahun, dan ukurannya akan menyusut menjadi setengah dari ukuran aslinya, yaitu Hukum Moore yang terkenal. Sekitar 15 tahun yang lalu, semikonduktor mulai memasuki era sub mikron, yaitu lebih kecil dari mikrometer, diikuti oleh era sub mikron yang lebih dalam, jauh lebih kecil dari mikrometer. Pada tahun 2001, ukuran transistor bahkan menyusut hingga kurang dari 0,1 mikrometer, yaitu kurang dari 100 nanometer. Oleh karena itu, di era nanoelektronik, sebagian besar IC masa depan akan dibuat menggunakan nanoteknologi.
Persyaratan teknis:
Saat ini, bentuk utama kegagalan perangkat elektronik adalah kegagalan termal. Menurut statistik, 55% kegagalan perangkat elektronik disebabkan oleh suhu yang melebihi nilai yang ditentukan, dan tingkat kegagalan perangkat elektronik meningkat secara eksponensial seiring dengan meningkatnya suhu. Secara umum, keandalan operasional komponen elektronik sangat sensitif terhadap suhu, dengan penurunan keandalan sebesar 5% untuk setiap kenaikan suhu perangkat sebesar 1 derajat antara 70-80 derajat Celcius. Oleh karena itu, penting untuk mendeteksi suhu perangkat dengan cepat dan andal. Karena ukuran perangkat semikonduktor yang semakin kecil, persyaratan yang lebih tinggi diterapkan pada resolusi suhu dan resolusi spasial peralatan deteksi.
