Selesaikan masalah EMI dalam domain waktu dan frekuensi menggunakan osiloskop digital RTO
Osiloskop digital RTO dapat membantu insinyur pengembangan menganalisis masalah EMI dalam domain waktu dan domain frekuensi saat merancang elektronik, dan dapat membantu menemukan penyebab EMI. Osiloskop digital RTO memiliki noise masukan yang sangat rendah, dan sensitivitasnya dapat mencapai 1mv/div dalam rentang bandwidth penuh 0-4GHz. Kemampuan analisis spektrum FFT real-time RTO dapat digunakan dengan analisis probe jarak dekat untuk mendiagnosis masalah EMI.
Gambar: Osiloskop digital R&S RTO – FFT front-end dengan noise rendah/kinerja tinggi menciptakan alat diagnostik EMI yang hebat
Kunci diagnosis EMI adalah teknologi FFT. Dengan fungsi FFT pada osiloskop tradisional, sulit untuk mengatur parameter dalam domain frekuensi, dan analisis spektrum memerlukan waktu lama. Karena antarmuka operasi FFT osiloskop R&S RTO didasarkan pada penganalisis spektrum, pengguna dapat langsung mengatur parameter, termasuk frekuensi awal, frekuensi cutoff, resolusi bandwidth, dan jenis detektor, seperti menggunakan penganalisis spektrum.
Teknologi FFT yang kuat dikombinasikan dengan kedalaman memori yang besar dari osiloskop RTO memungkinkan pengguna mengatur parameter domain waktu dan domain frekuensi secara mandiri dan secara fleksibel melakukan analisis dalam domain waktu dan domain frekuensi. Fitur-fitur ini memungkinkan pengguna mendeteksi sumber gangguan yang terpancar secepat mungkin.
Osiloskop R&S RTO menggunakan FFT Tumpang Tindih untuk analisis domain frekuensi. Teknologi FFT yang tumpang tindih dapat mencapai sensitivitas tinggi terhadap radiasi palsu dan menangkap titik frekuensi palsu sesekali. Osiloskop pertama-tama membagi sinyal domain waktu yang ditangkap menjadi beberapa segmen waktu, dan kemudian melakukan perhitungan FFT untuk mendapatkan spektrum setiap segmen waktu, sehingga sinyal palsu sesekali berenergi rendah dapat ditangkap dalam spektrum.
Kemudian, sinyal dengan frekuensi berbeda ditandai dengan warna berbeda, dan spektrum analisis FFT semua periode waktu digabungkan menjadi spektrum lengkap.
Radiasi dan radiasi insidental ditandai dengan warna berbeda. Analisis spektrum menggunakan teknik penandaan warna yang berbeda dapat dengan sempurna menunjukkan jenis dan frekuensi radiasi EMI.
Teknologi FFT berjendela memungkinkan pengguna untuk menyesuaikan jendela waktu pada sinyal yang ditangkap, melakukan analisis FFT hanya pada sinyal dalam jangka waktu tersebut, dan menganalisis hubungan yang sesuai antara setiap sinyal domain waktu dan spektrum dengan menggeser jendela ini. Misalnya, teknik ini dapat digunakan untuk menganalisis masalah EMI yang disebabkan oleh overshoot transistor pada catu daya switching. Setelah mengkonfirmasi titik masalah, pengguna dapat dengan cepat memverifikasi efek perbaikan.
Alat templat juga sangat efektif ketika menganalisis masalah radiasi nyasar. Pengguna menentukan templat dalam domain frekuensi dan membuat pengaturan yang sesuai untuk sinyal yang melanggar, sehingga mereka dapat secara akurat menentukan sinyal mana yang menyebabkan pelanggaran spektrum. Bahkan untuk sinyal yang telah ditangkap, pengguna dapat mengatur parameter FFT, seperti ukuran jendela dan resolusi frekuensi. Fungsi canggih tersebut memungkinkan pengguna melakukan analisis cermat terhadap radiasi EMI yang sulit ditangkap.
Osiloskop R&S RTO menetapkan tolok ukur baru untuk osiloskop dengan fitur akuisisi dan analisisnya yang kaya. Pada saat yang sama, dikombinasikan dengan beragam aksesori, seperti probe medan dekat R&S HZ-15, alat ini menyediakan serangkaian solusi diagnostik EMI yang lengkap.
