Peraturan yang Harus Dipatuhi Saat Menggunakan Pengukur Ketebalan Lapisan
Peraturan yang harus dipatuhi saat menggunakan instrumen
Karakteristik logam dasar
Untuk metode magnetik, sifat magnetik dan kekasaran permukaan logam dasar potongan standar harus serupa dengan logam dasar spesimen.
Untuk metode arus eddy, sifat kelistrikan logam substrat standar harus serupa dengan sifat listrik logam substrat spesimen.
B Ketebalan logam dasar
Periksa apakah ketebalan logam dasar melebihi ketebalan kritis. Jika tidak, salah satu metode pada 3.3 dapat digunakan untuk kalibrasi.
C-efek tepi
Pengukuran tidak boleh dilakukan pada perubahan mendadak di dekat benda uji, seperti tepi, lubang, dan sudut dalam.
kelengkungan D
Ini tidak boleh diukur pada permukaan benda uji yang melengkung.
E Frekuensi membaca
Karena setiap pembacaan instrumen tidak persis sama, maka perlu dilakukan beberapa pembacaan dalam setiap area pengukuran. Perbedaan lokal dalam ketebalan lapisan penutup juga memerlukan beberapa pengukuran dalam area tertentu, terutama selama pengasaran permukaan.
F Kebersihan permukaan
Sebelum pengukuran, segala zat yang menempel seperti debu, minyak, dan produk korosi pada permukaan harus dibersihkan, namun jangan menghilangkan bahan penutup apa pun.
Metode penggunaan pengukur ketebalan lapisan yang benar
1) Dampak zat yang menempel. Instrumen ini sensitif terhadap zat-zat yang menempel yang menghalangi probe untuk melakukan kontak dekat dengan permukaan lapisan penutup. Oleh karena itu, perlu untuk melampirkan zat untuk memastikan kontak langsung antara probe dan permukaan lapisan penutup. Saat melakukan kalibrasi sistem, permukaan media yang dipilih juga harus terbuka dan halus.
(2) Interferensi dari medan magnet yang kuat. Kami pernah melakukan percobaan sederhana dimana pengukuran sangat terganggu ketika instrumen dioperasikan di dekat medan elektromagnetik sekitar 10.000 V. Jika sangat dekat dengan medan elektromagnetik, masih ada kemungkinan terjadinya tabrakan.
(3) Faktor manusia. Situasi ini sering terjadi pada pengguna baru. Alasan mengapa pengukur ketebalan lapisan dapat mengukur mikrometer adalah karena alat ini dapat mengubah perubahan kecil pada fluks magnet dan mengubahnya menjadi sinyal digital. Jika pengguna tidak terbiasa dengan instrumen selama proses pengukuran, probe dapat menyimpang dari benda yang diukur, menyebabkan perubahan fluks magnet dan mengakibatkan kesalahan pengukuran. Jadi disarankan agar pengguna menguasai metode pengukuran sebelum menggunakan instrumen ini untuk pertama kali. Penempatan probe mempunyai pengaruh yang signifikan terhadap pengukuran, dan probe harus dijaga tegak lurus terhadap permukaan sampel selama pengukuran. Dan waktu penempatan probe tidak boleh terlalu lama untuk menghindari gangguan pada medan magnet substrat itu sendiri.
(4) Tidak ada media yang sesuai yang dipilih selama kalibrasi sistem. Bidang kecil media adalah 7 mm dan ketebalan kecilnya adalah 0,2 mm. Pengukuran di bawah kondisi kritis ini tidak dapat diandalkan.
