Masalah yang sering ditemui saat menggunakan probe pengukur ketebalan lapisan
Saat memperbaiki probe pengukur ketebalan lapisan, sering ditemukan bahwa inti magnet sudah sangat aus, dan beberapa dapat dikatakan rusak parah. Misalnya, inti permata pada kepala N1 sering rusak dan terkelupas, dan inti busur inti magnet kepala F1 menjadi rata atau berubah bentuk.
Pertama-tama, adalah normal jika probe dipakai saat digunakan. Namun jika pengguna memperhatikan karakteristiknya, masa pakainya akan diperpanjang.
Masalah yang umum terjadi adalah ketika mengukur, karena pengujian biasanya dilakukan ke bawah, pengguna sering kali menekan ke bawah lebih keras, yang dapat dengan mudah menyebabkan kegagalan inti probe seiring waktu. Cara menggunakannya yang benar adalah dengan menekan probe secara perlahan pada permukaan yang diukur ketika jaraknya satu sentimeter dari benda kerja yang akan diukur. Karena probe memiliki pegas tekanan induksi bawaan selama desain, Anda hanya perlu menekannya dengan lembut. Hal lainnya adalah jika probe dipindahkan berulang kali, probe akan mudah terbentur, bertabrakan, dan bertabrakan dengan benda lain, serta mudah menyebabkan kerusakan pada probe. Oleh karena itu, jika kondisi kerja memungkinkan, probe dapat diperbaiki dan benda kerja yang akan diukur dapat bersentuhan dengan probe, sehingga mengurangi tabrakan probe.
Dalam kasus lain, saat mengukur, setiap kali Anda mengukur suatu titik, Anda harus mengangkat probe dan tidak menariknya hingga rata untuk mengurangi keausan inti.
Terakhir, probe harus dijauhkan dari medan magnet yang kuat untuk menghindari perubahan frekuensi alami probe dan menyebabkan kegagalan kerja. Pengoperasian dan penggunaan yang benar memperpanjang masa pakai instrumen.
Lapisan penutup yang dibentuk untuk melindungi dan menghiasi permukaan material, seperti pelapisan, pelapisan, pelapisan, laminasi, film yang dibentuk secara kimia, dll., disebut pelapisan dalam standar nasional dan internasional yang relevan.
Pengukuran ketebalan lapisan telah menjadi bagian penting dari pemeriksaan kualitas dalam industri pengolahan dan rekayasa permukaan, dan merupakan sarana penting agar produk memenuhi standar kualitas yang sangat baik. Untuk menginternasionalkan produk, komoditas ekspor negara saya dan proyek terkait luar negeri memiliki persyaratan yang jelas untuk ketebalan lapisan.
Metode utama untuk mengukur ketebalan lapisan meliputi: metode pemotongan baji, metode intersepsi cahaya, metode elektrolisis, metode pengukuran perbedaan ketebalan, metode penimbangan, metode fluoresensi sinar-X, metode hamburan balik sinar-, metode kapasitansi, metode pengukuran magnetik dan hukum pengukuran arus eddy. dll. Lima metode pertama adalah pengujian destruktif. Metode pengukurannya rumit dan lambat, dan sebagian besar cocok untuk pemeriksaan pengambilan sampel.
Metode sinar-X dan sinar-X adalah pengukuran non-kontak dan non-destruktif, namun perangkatnya rumit dan mahal, serta rentang pengukurannya kecil. Karena adanya sumber radioaktif, pengguna harus mematuhi peraturan proteksi radiasi. Metode sinar-X dapat mengukur lapisan yang sangat tipis, lapisan ganda, dan lapisan paduan. Metode -ray cocok untuk pengukuran pelapis dan pelapis dengan nomor atom substrat lebih besar dari 3. Metode kapasitansi hanya digunakan ketika mengukur ketebalan lapisan isolasi pada konduktor tipis.
