Analisis Kegagalan Optik Mikroskop
Gambar ganda mikroskopis tidak bertepatan. Dalam pengamatan lensa okuler teropong, terkadang akan terjadi fenomena ketidaksejajaran gambar ganda. Munculnya ketidaksejajaran gambar ganda tidak mempedulikan kompensasi yang tidak konsisten dari panjang kedua laras lensa. Pembesaran kedua eyepieces sangat berbeda, dan getaran selama penggunaan atau transportasi menyebabkan kerusakan teropong. Posisi prisma bergeser karena tiga alasan. Untuk dua alasan pertama, mereka telah dikalibrasi dan dicocokkan saat meninggalkan pabrik, dan dapat diselesaikan selama Anda memperhatikan metode dan pencocokan saat digunakan.
Alasan ketiga untuk mikroskop lebih umum. Pada saat ini, cangkang teropong harus dibuka, penggaris silang harus ditempatkan pada platform, dan eyepiece reticle 10X harus dimasukkan ke dalam tong lensa kiri dan kanan untuk observasi, dan posisi serta sudut prisma teropong harus dikoreksi . , dan ketika lensa mata teropong diputar untuk mengamati pada sudut yang berbeda, posisi tanda silang berada pada posisi yang sama dari bidang pandang lensa mata kiri dan kanan, lalu kencangkan.
Ketika pengamatan teropong mikroskop, terkadang akan ada ketidakkonsistenan dalam kecerahan dan warna bidang pandang kiri dan kanan, yang akan mempengaruhi pengamatan. Hal ini disebabkan oleh rusaknya film pemisah prisma pemecah berkas. Pada saat ini, prisma pemecah sinar harus dilepas dan dikirim ke produsen mikroskop untuk pelapisan ulang sebelum dirakit dan digunakan. .
Perbedaan antara penerapan mikroskop metalografi tegak dan mikroskop metalografi terbalik
Mikroskop metalurgi terbalik, karena permukaan pengamatan sampel bertepatan dengan permukaan meja kerja ke bawah, lensa objektif pengamatan terletak di bawah meja kerja dan diamati ke atas, bentuk pengamatan ini tidak dibatasi oleh ketinggian sampel, selama satu permukaan pengamatan datar saat menyiapkan sampel Oleh karena itu, banyak digunakan di laboratorium pabrik, lembaga penelitian ilmiah, dan perguruan tinggi. Basis mikroskop metalografi terbalik memiliki area pendukung yang besar, pusat gravitasi rendah, operasi yang stabil dan andal, dan lensa mata serta permukaan pendukungnya miring pada 45 derajat, membuat pengamatan menjadi nyaman.
Mikroskop metalografi tegak memiliki fungsi dasar yang sama dengan mikroskop metalografi terbalik, kecuali untuk analisis dan identifikasi sampel logam dengan tinggi 20-30mm, karena sesuai dengan kebiasaan masyarakat sehari-hari, lebih banyak digunakan dalam transparan , bahan tembus cahaya atau buram. Mikroskop metalurgi tegak membentuk citra positif selama pengamatan, yang sangat memudahkan pengamatan dan identifikasi pengguna. Selain analisis dan identifikasi sampel logam dengan tinggi 20-30mm, target pengamatan yang lebih besar dari 3 mikron dan kurang dari 20 mikron, seperti cermet, chip elektronik, sirkuit tercetak, substrat LCD, film, serat, benda granular, pelapis dan bahan lain di permukaan Struktur dan jejak dapat memiliki efek pencitraan yang baik.
