Pengantar Memilih Antara Mikroskop Tegak dan Mikroskop Terbalik
Mikroskop metalografi, juga dikenal sebagai mikroskop material, terutama digunakan untuk mengamati struktur struktur logam. Ini dapat dibagi menjadi mikroskop metalografi tegak dan mikroskop metalografi terbalik
Mikroskop metalografi tegak menghasilkan gambar positif selama pengamatan, yang memberikan kemudahan besar bagi pengamatan dan identifikasi pengguna. Selain untuk menganalisis dan mengidentifikasi sampel logam dengan tinggi 20-30mm, lebih banyak digunakan untuk zat transparan, semi transparan, atau buram karena kesesuaiannya dengan kebiasaan manusia sehari-hari. Mengamati target yang lebih besar dari 3 mikron tetapi lebih kecil dari 20 mikron, seperti keramik logam, chip elektronik, sirkuit cetak, substrat LCD, film, serat, objek granular, pelapis, dan bahan lainnya, dapat mencapai efek pencitraan yang baik untuk struktur dan jejak permukaannya. Selain itu, sistem kamera eksternal dapat dengan mudah dihubungkan ke layar video dan komputer untuk observasi gambar secara real-time dan dinamis, penyimpanan dan pengeditan, pencetakan, dan dikombinasikan dengan berbagai perangkat lunak untuk memenuhi kebutuhan bidang metalografi, pengukuran, dan pengajaran interaktif yang lebih profesional. Mikroskop metalografi terbalik menggunakan pencitraan bidang optik untuk mengidentifikasi dan menganalisis struktur mikro berbagai logam dan paduan. Ini adalah alat penting untuk mempelajari metalografi dalam fisika logam dan dapat digunakan secara luas di pabrik atau laboratorium untuk kualitas pengecoran, inspeksi bahan mentah, atau penelitian dan analisis struktur metalografi material setelah perawatan proses. Ini memberikan hasil analisis intuitif dan merupakan peralatan utama untuk identifikasi kualitas dan analisis pengecoran, peleburan, dan perlakuan panas di industri pertambangan, metalurgi, manufaktur, dan pemrosesan mekanis.
Dalam beberapa tahun terakhir, karena kebutuhan akan teknologi mikroskop planar pembesaran tinggi untuk mendukung produksi chip di industri mikroelektronika, mikroskop metalografi telah diperkenalkan dan terus ditingkatkan untuk memenuhi kebutuhan khusus industri. Mikroskop metalografi terbalik, karena permukaan pengamatan sampel bertepatan dengan permukaan meja kerja, tujuan pengamatan terletak di bawah meja kerja dan diamati ke atas. Bentuk observasi ini tidak dibatasi oleh tinggi sampel, mudah digunakan, struktur instrumen kompak, cantik dan berpenampilan murah hati. Basis mikroskop metalografi terbalik memiliki area pendukung yang besar dan pusat gravitasi yang rendah, yang stabil dan dapat diandalkan. Lensa mata dan permukaan pendukung dimiringkan pada 45 derajat, membuat pengamatan menjadi nyaman.
