Menetapkan istilah "pengukur ketebalan lapisan" dan "bidang yang cocok untuk probe F dan probe NF"
Pengukur ketebalan lapisan dapat secara non-destruktif mengukur ketebalan lapisan non-magnetik (seperti aluminium, kromium, tembaga, enamel, karet, cat, dll.) Ketebalan lapisan non-konduktif (misalnya, enamel, karet, cat , plastik, dll.) pada substrat logam (misalnya, tembaga, aluminium, seng, timah, dll.). Pengukur ketebalan lapisan memiliki karakteristik kesalahan pengukuran yang kecil, keandalan yang tinggi, stabilitas yang baik, dan pengoperasian yang mudah. Ini adalah instrumen pengujian yang sangat diperlukan untuk mengendalikan dan memastikan kualitas produk. Ini banyak digunakan di bidang manufaktur, pemrosesan logam, industri kimia, inspeksi komoditas dan bidang pengujian lainnya.
Fitur Pengukur Ketebalan Lapisan
Probe built-in fungsi ganda digunakan untuk secara otomatis mengidentifikasi bahan matriks besi atau non-besi, dan memilih metode pengukuran yang sesuai untuk pengukuran.
Struktur tampilan ganda yang dirancang secara ergonomis memungkinkan pembacaan data pengukuran pada posisi pengukuran apa pun.
Menggunakan metode pemilihan fungsi menu ponsel, pengoperasiannya sangat sederhana.
Batas atas dan bawah dapat diatur, dan ketika hasil pengukuran melebihi atau memenuhi batas atas dan bawah, instrumen akan mengeluarkan suara yang sesuai atau lampu berkedip untuk meminta.
Stabilitasnya sangat tinggi, dan biasanya dapat digunakan dalam waktu lama tanpa kalibrasi.
spesifikasi teknis
Rentang pengukuran: 0-2000μm,
Catu daya: dua baterai AAA
Konfigurasi standar
Perbedaan antara FN dalam pengukur ketebalan lapisan
F adalah singkatan dari ferrous feromagnetic substrat. Pengukur ketebalan lapisan tipe-F menggunakan prinsip induksi elektromagnetik untuk mengukur pelapis dan pelapis non-feromagnetik pada substrat logam feromagnetik seperti baja dan besi, seperti: cat, bubuk, plastik, karet, bahan sintetis, lapisan fosfat, kromium, seng, timah, aluminium, timah, kadmium, porselen, enamel, lapisan oksida, dll.
N adalah singkatan dari Non-ferrous non-ferrous substrat, pengukur ketebalan lapisan tipe-N mengadopsi prinsip arus eddy; untuk mengukur enamel, karet, cat, lapisan plastik, dll. pada substrat tembaga, aluminium, seng, timah dan lainnya dengan sensor arus eddy.
Pengukur ketebalan lapisan tipe FN mengadopsi prinsip induksi elektromagnetik dan prinsip arus eddy. Ini adalah pengukur ketebalan lapisan dua-dalam-satu dari tipe F dan tipe N. Gunakan lihat di atas. Pengukur Ketebalan Magnetik dengan Probe F
