Perbedaan penerapan mikroskop metalografi tegak dan terbalik
Perbedaan antara tegak dan terbalik hanyalah sampel tegak ditempatkan di bawah dan sampel terbalik ditempatkan di atas. Objektif tegak menghadap ke bawah, dan objektif terbalik menghadap ke atas.
Mikroskop metalografi terbalik, karena permukaan pengamatan sampel bertepatan dengan permukaan meja kerja, dan tujuan pengamatan terletak di bawah meja kerja untuk pengamatan ke atas, bentuk pengamatan ini tidak dibatasi oleh ketinggian sampel. Saat menyiapkan sampel, hanya satu permukaan pengamatan yang datar, sehingga biasa digunakan di laboratorium pabrik, lembaga penelitian ilmiah, dan universitas untuk pengajaran. Dasar mikroskop metalografi terbalik memiliki area pendukung yang besar, pusat gravitasi yang rendah, serta stabil dan dapat diandalkan. Lensa mata dan permukaan pendukung dimiringkan pada 45 derajat, membuat pengamatan menjadi nyaman.
Mikroskop metalografi tegak mempunyai fungsi dasar yang sama dengan mikroskop metalografi terbalik. Selain untuk menganalisis dan mengidentifikasi sampel logam dengan tinggi 20-30mm, ini lebih banyak digunakan pada material transparan, semi transparan, atau buram karena sesuai dengan kebiasaan manusia sehari-hari. Mikroskop metalografi tegak membentuk gambar positif selama observasi, yang memberikan kemudahan besar bagi observasi dan diskriminasi pengguna. Selain menganalisis dan mengidentifikasi sampel logam dengan tinggi 20-30mm, target observasi lebih besar dari 3 mikron tetapi lebih kecil dari 20 mikron, seperti struktur permukaan dan jejak material seperti sermet, chip elektronik, sirkuit cetak, Substrat LCD, film tipis, serat, objek granular, pelapis, dll., semuanya dapat memiliki efek pencitraan yang baik.
