Fokus mendalam untuk pencelupan dan mikroskop STED
Fokus mendalam dari tujuan NA tinggi menghasilkan PSF (fungsi penyebaran titik) yang lebih kecil, yang sangat penting untuk sistem mikroskop resolusi tinggi. Dalam banyak sistem mikroskop lainnya, seperti mikroskop imersi, kaca penutup digunakan untuk memisahkan cairan imersi dari sampel. Ini dapat mendistorsi PSF pada bidang fokus. Kami menunjukkan bahwa PSF asimetris semakin memanjang di belakang kaca penutup. Selain itu, mikroskop STED (Stimulated Emission Depletion), yang banyak digunakan dengan resolusi puluhan nanometer, menggunakan PSF toroidal. Mengikuti pendekatan yang diusulkan oleh P.Török dan PRT Monro, kami memodelkan pemfokusan mendalam dari berkas Gauss-Raggler. Mendemonstrasikan cara membuat PSF melingkar.
Deep Focusing dengan High NA Immersion Microscopy
Di VirtualLab Fusion, pengaruh antarmuka coverlip pada PSF dapat dianalisis secara langsung. Distorsi fokus di balik kaca penutup didemonstrasikan dan dianalisis dengan gaya vektor sepenuhnya.
Pemfokusan berkas Gaussian-Laguerre dalam mikroskop STED
Terlihat bahwa pemfokusan balok Gaussian-Laguerre orde tinggi menghasilkan PSF berbentuk cincin. Ukuran PSF annular tergantung, antara lain variabel, pada urutan tertentu dari balok.
