Pelapis ketebalan pengukur prinsip pengukuran arus eddy
Sinyal AC frekuensi tinggi menghasilkan medan elektromagnetik dalam koil probe, dan ketika probe mendekati konduktor, arus eddy terbentuk di dalamnya. Semakin dekat probe dengan substrat konduktif, semakin besar arus eddy dan semakin tinggi impedansi refleksi. Kuantitas tindakan umpan balik ini mencirikan jarak antara probe dan substrat konduktif, yaitu, ketebalan lapisan non-konduktif pada substrat konduktif. Karena fakta bahwa jenis probe pengukur ketebalan pelapis ini secara khusus dirancang untuk mengukur ketebalan pelapis pada substrat logam non-ferromagnetik, biasanya disebut sebagai probe non-magnetik. Probe non-magnetik menggunakan bahan frekuensi tinggi sebagai inti kumparan. Dibandingkan dengan prinsip induksi magnetik, perbedaan utamanya adalah bahwa penyelidikan pengukur ketebalan lapisan berbeda, frekuensi sinyal berbeda, dan ukuran sinyal dan hubungan skala berbeda. Pengukur ketebalan lapisan berdasarkan prinsip arus eddy dapat mengukur pelapis non-konduktif pada semua substrat konduktif, seperti permukaan pesawat ruang angkasa, kendaraan, peralatan rumah tangga, pintu dan jendela paduan aluminium, dan produk aluminium lainnya, termasuk cat, pelapis plastik, dan film anodized. Bahan pelapis memiliki tingkat konduktivitas tertentu, yang juga dapat diukur melalui kalibrasi, tetapi diperlukan bahwa rasio konduktivitas antara keduanya setidaknya 3-5 kali berbeda. Meskipun substrat baja juga merupakan konduktor, masih lebih tepat untuk menggunakan prinsip -prinsip magnetik untuk mengukur ketebalan lapisan untuk tugas -tugas tersebut.
Beberapa faktor yang mempengaruhi pengukuran pengukur ketebalan lapisan. Metode magnetik untuk mengukur ketebalan dipengaruhi oleh perubahan sifat -sifat logam dasar (dalam aplikasi praktis, perubahan sifat magnetik baja karbon rendah dapat dianggap sedikit). Untuk menghindari pengaruh perlakuan panas dan faktor pemrosesan dingin, pelat standar dengan sifat yang sama dengan logam dasar spesimen harus digunakan untuk mengkalibrasi instrumen; Konduktivitas logam dasar memiliki dampak pada pengukuran, dan konduktivitas logam dasar terkait dengan komposisi material dan metode perlakuan panas. Gunakan pelat standar dengan sifat yang sama dengan logam dasar spesimen untuk mengkalibrasi instrumen; Setiap instrumen memiliki ketebalan kritis, di luar itu pengukuran tidak dipengaruhi oleh ketebalan logam dasar; Ini sensitif terhadap perubahan curam dalam bentuk permukaan spesimen, sehingga mengukur di dekat tepi atau sudut dalam spesimen tidak dapat diandalkan; Kelengkungan spesimen memiliki dampak pada pengukuran, dan meningkat secara signifikan dengan penurunan jari -jari kelengkungan. Oleh karena itu, mengukur pada permukaan spesimen bengkok juga tidak dapat diandalkan; Probe akan menyebabkan deformasi spesimen pelapis lunak, sehingga data yang dapat diandalkan tidak dapat diukur pada spesimen ini; Kekasaran permukaan logam dan pelapisan dasar berdampak pada pengukuran. Peningkatan kekasaran menyebabkan peningkatan dampak, dan permukaan yang kasar dapat menyebabkan kesalahan sistematis dan tidak disengaja. Oleh karena itu, jumlah pengukuran harus ditingkatkan pada posisi yang berbeda selama setiap pengukuran untuk mengatasi kesalahan kecelakaan ini. Jika logam dasar pada substrat kasar, perlu untuk mengambil beberapa posisi pada spesimen logam dasar yang tidak dilapisi dengan kekasaran yang sama untuk mengkalibrasi titik nol instrumen, atau larut dan menghilangkan lapisan dengan larutan yang tidak mengikat logam dasar, dan kemudian mengkalibrasi titik nol instrumen; Medan magnet yang kuat yang dihasilkan oleh berbagai peralatan listrik di sekitar dapat secara serius mengganggu pekerjaan pengukuran ketebalan magnetik; Zat yang terpasang yang menghambat kontak dekat antara probe dan permukaan pelapis harus dilepas. Dalam pengukuran, tekanan harus dijaga konstan, dan probe harus dijaga tetap tegak lurus terhadap permukaan spesimen untuk mencapai pengukuran yang akurat.
