Definisi Pengukur Ketebalan Lapisan dan Area Penerapan Probe F dan NF Secara Resmi Terungkap
Pengukur ketebalan lapisan dapat mengukur ketebalan lapisan non-magnetik (seperti aluminium, kromium, tembaga, enamel, karet, cat, dll.) secara non-destruktif dan lapisan non-magnetik pada substrat logam magnetik (seperti baja, besi, paduan dan baja magnet keras, dll.) Ketebalan lapisan non-konduktif (seperti enamel, karet, cat, plastik, dll.) pada substrat logam (seperti tembaga, aluminium, seng, timah, dll.). Pengukur ketebalan lapisan memiliki karakteristik kesalahan pengukuran yang kecil, keandalan yang tinggi, stabilitas yang baik, dan pengoperasian yang mudah. Ini adalah instrumen pengujian yang sangat diperlukan untuk mengendalikan dan memastikan kualitas produk. Ini banyak digunakan di bidang manufaktur, industri pengolahan logam, industri kimia, inspeksi komoditas dan bidang inspeksi lainnya.
Fitur pengukur ketebalan lapisan
Ini mengadopsi probe bawaan fungsi ganda untuk secara otomatis mengidentifikasi bahan dasar berbasis besi atau non-besi dan memilih metode pengukuran yang sesuai untuk pengukuran.
Struktur layar ganda yang dirancang secara ergonomis memungkinkan data pengukuran dibaca pada posisi pengukuran apa pun.
Menggunakan metode pemilihan fungsi menu ponsel, pengoperasiannya sangat sederhana.
Nilai batas atas dan bawah dapat diatur. Ketika hasil pengukuran melebihi atau memenuhi nilai batas atas dan bawah, instrumen akan mengeluarkan suara atau perintah lampu berkedip yang sesuai.
Ini sangat stabil dan biasanya dapat digunakan untuk waktu yang lama tanpa koreksi.
Spesifikasi teknis
Rentang pengukuran: 0-2000μm,
Catu daya: Dua baterai AA
Konfigurasi standar
Perbedaan antara FN pada pengukur ketebalan lapisan
F adalah singkatan dari substrat feromagnetik besi. Pengukur ketebalan lapisan tipe F menggunakan prinsip induksi elektromagnetik untuk mengukur lapisan non-feromagnetik dan pelapis pada substrat logam feromagnetik seperti baja dan besi, seperti cat, bubuk, plastik, dan karet. , bahan sintetis, lapisan fosfat, kromium, seng, timbal, aluminium, timah, kadmium, porselen, enamel, lapisan oksida, dll.
N adalah singkatan dari Substrat non-ferrous non-ferrous. Pengukur ketebalan lapisan tipe-N mengadopsi prinsip arus eddy; ia menggunakan sensor arus eddy untuk mengukur enamel, karet, cat, lapisan plastik, dll. pada tembaga, aluminium, seng, timah, dan substrat lainnya.
Pengukur ketebalan lapisan tipe FN mengadopsi prinsip induksi elektromagnetik dan prinsip arus eddy. Ini adalah pengukur ketebalan lapisan dua-dalam-satu tipe F dan tipe N. Lihat di atas untuk penggunaan. Pengukur ketebalan magnetik dengan probe F;
