Klasifikasi Lensa Objektif Khusus untuk Mikroskop Metalurgi
1, dengan tujuan cincin koreksi (Correctioncollarobjective): di tengah lensa objektif dilengkapi dengan cincin penyetel yang dipasang di cincin, saat memutar cincin penyetel, dapat disesuaikan di dalam lensa lensa objektif antara jarak antara kelompok lensa, sehingga sebagai dikoreksi dengan ketebalan kaca penutup yang tidak sesuai standar akibat perbedaan tersebut. Cincin penyetel pada skala bisa dari 0.11-.023, pada cangkang lensa objektif juga ditandai dengan angka ini, menandakan bahwa kaca penutup dapat dikoreksi dari 0.{ {5}}ketebalan .23mm di antara kesalahan.
2, dengan tujuan diafragma warna-warni (Irisdiaphragmobjective): di bagian atas laras lensa objektif dilengkapi dengan diafragma warna-warni, sisi luar juga dapat diputar untuk menyesuaikan cincin, memutar ukuran bukaan diafragma dapat disesuaikan, struktur ini lensa objektif adalah lensa objektif yang terendam minyak, fungsinya untuk mendeteksi bidang pandang gelap bila latar belakang bidang pandang kurang gelap sehingga mengakibatkan penurunan kualitas mikroskop. Pada saat ini sesuaikan ukuran diafragma agar latar belakang menjadi lebih gelap, agar objek yang diperiksa lebih terang, untuk meningkatkan efek mikroskop.
3, tujuan kontras fase (Tujuan Kontras Fase): tujuan ini digunakan untuk tujuan khusus mikroskop kontras fase, yang ditandai dengan bidang fokus lensa objektif yang dilengkapi dengan pelat fase.
4, tidak ada tujuan penutup (Nocoverobjective): pada beberapa objek yang diperiksa, bagian atasnya tidak dapat ditambah dengan kaca penutup, sehingga pada pemeriksaan mikroskopis sebaiknya digunakan tanpa penutup objektif, jika tidak kualitas gambar akan berkurang secara signifikan, terutama pada mikroskop pembesaran tinggi lebih jelas. Lensa objektif ini sering diukir pada cangkang NC, sekaligus pada posisi ketebalan kaca penutup tanpa tulisan 0.17, tetapi diukir dengan "0".
5, tujuan jarak kerja yang panjang: panjang fokus tujuan ini lebih besar dari tujuan biasa, dirancang untuk memenuhi bahan cair (metalografi suhu tinggi), kristal cair, kultur jaringan, suspensi dan bahan lain yang dirancang untuk mikroskop.
